2022-03-25
膜厚測(cè)試儀是常見(jiàn)的一種設(shè)備鍍層檢測(cè)工具，采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性鍍層的厚度，因此膜厚測(cè)試儀受到很多廠商的追捧。它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，那么哪些因素會(huì)影響膜厚測(cè)試儀的性能?下面由深圳立儀公司為大家分享：
一、基體金屬磁化
因?yàn)槟ず駵y(cè)試儀磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。并且每一種膜厚測(cè)試儀都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
二、邊緣效應(yīng)
由于膜厚測(cè)試儀對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量不可靠。所以膜厚測(cè)試儀的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
三、表面粗糙度
基體金屬和表面粗糙度對(duì)膜厚測(cè)試儀測(cè)量有影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
四、磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)干擾膜厚測(cè)試儀測(cè)量厚度的工作。并且膜厚測(cè)試儀對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。值得注意的是在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
以上幾個(gè)因素都會(huì)影響膜厚測(cè)試儀的性能，用戶(hù)需要格外注意。其實(shí)任何一種設(shè)備儀器都會(huì)有影響誤差，尤其對(duì)于比較精密的儀器，所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來(lái)很大的影響，提高專(zhuān)業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。
