Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
2024-08-19
01|檢測(cè)需求:掃描薄膜圓圈的高度差
02|檢測(cè)方式
客戶要求掃描薄膜圓圈的高度差,根據(jù)觀察樣品我們選擇立儀科技D40A30鏡頭搭配H系列控制器進(jìn)行測(cè)量
03|光譜共焦測(cè)量結(jié)果
薄膜圓圈的高度差輪廓
04|光譜共焦側(cè)頭
D40A30側(cè)頭相關(guān)參數(shù)
05|H系列控制器
H系列控制器相關(guān)參數(shù)
上一篇: 暫無(wú)
下一篇: 點(diǎn)膠引導(dǎo)、膠水測(cè)高側(cè)厚、液滴、液位、透明涂層厚度測(cè)量